高周波装置のための調子試験ソケット

高周波センタープロブ試験ソケット

特徴

• Ariesのユニークなユニバーサルソケットシステムにより,ソケットは任意のパッケージ,任意のピッチ (または複数のピッチ) で,任意の配置で,0.2mm以上から簡単に設定できます.ツール料が少ないか全くないか 余分な期間がかかる.
• CSP,μBGA,Bump-Array,QFN,QFP,MLF,DFN,SSOP,TSSOP,TSOP,SOP,SOIC,LGA,LCC,PLCC,TOのテスト&バーンインおよび製造された任意のSMTパッケージスタイル.また,PGAパッケージデバイスと互換性がある.
• 素早く 簡単 に探査機交換システム: 試験管の全セットを取り外し,新しいセット (インターポーザー) を迅速かつ簡単に挿入できます.古いセットを修理のために工場に戻し,1日以内に返却することができます.
• 圧縮装置 溶接は必要ない
• 4点の冠は溶接ボールに"スクラブ"を保証し,上昇した先端はパッドに"スクラブ"を保証します.
• 試験中の信号経路は0.077 [1.96] しかありません.
• 27ミリメートルのパッケージを 収納できます
• 容積やプロフィールが小さく,操作に便利な状態で,BIB1個,BIB1個あたり最大数の容器を設置できます.

• 機械の写真

  

• 鋳造されたソケットコンポーネント: UL 94V-0 PEEKおよび/またはUltem
• ピンインダクタンス:0.51nH (大きな探査機)
• 接触抵抗: <40mΩ
• 1dB帯域幅: 10.1GHz (0.80mmピッチ) (大きな探査機)
• 推定接触寿命:500,000サイクル
• 圧縮スプリング・プローブ:熱処理されたBeCu 30μm. [0.75μm] Au per MIL-G-45204 over 30μm. [0.75μm] Ni per SAE AMS-QQ-N-290B
• コントクトフォース...
  : 0.20-0.29mmのピッチで接触ごとに6g
  : 接触あたり15g 0.30~0.35mmのピッチで
  : 接触ごとに16g 0.40-0.45mmのピッチで
  : 接触点あたり25g 0.50~0.75mmのピッチ
  : 0.80mm 幅以上の接触点あたり 25g
• 動作温度: -55°C [-67°F] 最低 150°C [302°F] 最大
• ハードウェア:ステンレス鋼
• 
  

• ソーケット: 4 つの4-40 スクロール (ソケットがPCBに固定されたときに取り外される) または高ピン数アプリケーションのためにPCBの下側に使用されるタップされた,隔離されたバックプレートでマウント
• 注記:PCBへの出入り口を装着したり外に出したりする際には,出入り口を注意深く操作する必要があります.
• テスト PCB 最小直径 ¥G¥...
  : 0.025 [0.64] (大きな探査機 0.80mm ピッチとより大きい)
  : 0.015 [0.38] (小さな探査機 0.50-0.79mmピッチ)
  : 0.012 [0.31] (小さな探査機 0.40-0.49mmピッチ)
  : 0.009 [0.23] (小さな探査機 0.30-0.39mmピッチ)
  : 0.004 [0.10] (小さな探査機 0.20-0.29mmピッチ)
• PCB DIA をテストする.PRING-PROBE PAD PLATING: 30μ min. [0.75μ] Au per MIL-G-45204 over 30μ [0.75μ] min. Ni per SEA AMS-QQ-N-290. パッドはPCBの上面と同じ高さでなければならない.あなたの特定のアプリケーションのためにあなたの注文を受け取った後にアリスによって提供されたカスタムソケット図を参照してください.
• いくつかのアプリケーションではバックアッププレートが必要かもしれません.詳細についてはデータシート23018を参照してください.

すべての寸法 インチ [ミリメートル]

他のサイズとコンフィギュレーションのためのコンサルティング工場

すべての許容量 ±0.005 [±0.13] 指定しない限り

詳細な装置の図は,引用とソケットの設計のためにアリアに送られる必要があります

この文書のプリントアウトは,時代遅れで,見張っていないものとみなされるべきです.

カスタマイズ: このページに表示されている標準製品に加えて,Ariesはカスタムデザインと生産に特化した. 特別な材料,プラチング,サイズ,および構成が提供され,量によって. 注:アリスは,通知なしに製品仕様を変更する権利を留保します.